Περίγραμμα του Μαθήματος σύμφωνα με το πρότυπο της ΑΔΙΠ: 
Σκοπός: 

Μελέτη και αφομοίωση μεθόδων πρόσληψης πληροφορίας από το περιβάλλον προς τα συστήματα ελέγχου, επικοινωνίας δεδομένων και έλεγχου της παραγωγικής δραστηριότητας. Κατανόηση και αξιοποίηση των λειτουργιών των συστημάτων μετρήσεων και ελέγχου (δειγματοληψία, ενίσχυση, φιλτράρισμα, διευθέτηση σημάτων, μετατροπή από αναλογικό σε ψηφιακό σήμα και αντίθετα). Σύνθεση συστημάτων μετρήσεων και τηλεμετρικών συστημάτων με τη χρήση συστημάτων Η/Υ.

Περιγραφή – Περίγραμμα Μαθήματος: 

Η διδακτέα ύλη καλύπτει ένα ευρύ φάσμα θεμάτων όπως: Σήματα και Μετρήσεις, Συστήματα και Είδη Ελέγχου, Συστήματα Τεχνητής Νοημοσύνης, Δειγματοληψία, Ενίσχυση Σημάτων, Φίλτρα, Αισθητήρια, Διευθέτηση και Μετατροπή Σημάτων, Διασύνδεση Συστημάτων Μετρήσεων, Τηλεμετρικά Συστήματα, Πρότυπα, Προδιαγραφές, Αξιοπιστία και Ασφάλεια Συστημάτων, Εφαρμογές.

Βιβλιογραφία: 
  1. Συλλογή και επεξεργασία δεδομένων, Τσελές Δ., Σύγχρονη Εκδοτική ΕΠΕ
  2. LabView για μηχανικούς, Καλοβρέκτης Κωνσταντίνος, Εκδόσεις Α. Τζιόλα & ΥΙΟΙ Ο.Ε
  3. LabVIEW based Advanced Instrumentation Systems [electronic resource], Sumathi, S.Surekha, P., Heal-Link/Σύνδεσμος Ελληνικών Ακαδημαϊκών Βιβλιοθηκών
  4. Bentley John P., Συστήματα Μετρήσεων, Βασικές αρχές, Στέλλα Παρίκου & ΣΙΑ ΟΕ

10/05/2011 - 19:30

Παρακαλούνται όσοι Σπουδαστές έχουν κατοχυρωμένο το μάθημα Εργ.

11/03/2011 - 15:00

Την Τετάρτη 16 Μαρτίου 2011 ξεκινάει το μάθημα στο εργαστήριο Σ.Σ.Δ.

08/03/2011 - 11:15

Εγγραφές εργαστηρίου Συστήματα Συλλογής Δεδομένων για το εαρινό εξάμηνο του α

Σελίδες